AIM测厚仪采用光热红外法,非接触式精确测量涂层厚度,适用于多种材料及复杂表面。高精度、易操作、低维护,广泛应用于汽车、机车、塑料、锂电等领域,实现自动化检测。
AIM测厚仪采用光热红外法技术原理,通过调制光源激励待测样品,使其吸收光辐射能量后产生红外热辐射即热波。利用热
波在通过样品不同层状结构时的波形变化,分析得到待测样品层状结构以及缺陷形貌尺寸的信息,从而实现对涂层厚度的精
确测量。